师资队伍

您现在的位置是:首页 > 师资队伍 > 院士
A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

冯建华

职称:副教授

研究所:微纳电子学研究院

研究领域:IC设计和测试、硬件安全

办公电话:86-10-62767302

电子邮件:fengjh@pku.edu.cn

个人主页:

科研/教育经历

冯建华,男,博士,北京大学副教授。分别于1986年7月、1995年3月和2000年4月在哈尔滨工业大学、西安电子科技大学和西安微电子技术研究所获学士、硕士和博士学位。1986年8月至2000年4月在西安微电子技术研究所工作,2000年5月至2002年4月在清华大学微电子学研究所做博士后工作,2002年5月至今在北京大学微纳电子学研究院工作。主要研究领域包括IC设计和测试、芯片安全、可靠性加固与预警等。


研究成果概况

主要科研项目包括国家自然科学基金4项、国家预研项目3项(基于嵌入式内核SOC 系统芯片测试方法研究、嵌入式模拟和混合信号电路DFT 和BIST 研究、芯片硬件木马安全检测方法研究、硬件木马检测方法和可信设计技术研究、现场可编程门阵列器件可测性设计和测试技术等)。讲授“VLSI测试和可测试性设计”和“模拟、混合信号和射频电路测试”课程。曾获省部级一、二等奖2项,出版著(译)作3部,授权专利8项,发表论文40多篇,主持开发了40多种集成电路验证和测试程序。电子学会和计算机学会高级会员,容错专委常委。